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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESD5V0U4BF; PESD5V0U4BW
Ultra low capacitance bidirectional quadruple ESD protection arrays
4 GHz DIGITAL
RZ
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
CZ
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 ?
GND
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 100 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network) pin 1 to 2
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
GND
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 100 ns/div
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
Fig 4.
ESD clamping test setup and waveforms
PESD5V0U4BF_PESD5V0U4BW_1
(IEC 61000-4-2 network) pin 1 to 2
006aab037
? NXP B.V. 2008. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 01 — 15 August 2008
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